Plateforme d’imagerie et microscopie (PIM) de l’IBIS : des équipements et du soutien pour la recherche

Le saviez-vous? La plateforme d’Imagerie et Microscopie (PIM) de l’IBIS mets à la disposition de la communauté universitaire une collection de microscopes ainsi que des services de préparation d’échantillons, des conseils dans l’élaboration de protocoles, des formations et l’assistance à l’analyse des images, se positionnant comme facilitateur à la recherche. 

La plateforme dispose de plusieurs équipements à la fine pointe :

• Un microscope électronique à transmission (MET) JEOL 2100plus fonctionnant à 200 kV et pouvant résoudre des structures de 0.14 nm. Ce système est équipé d’une caméra Gatan OneView 4k x 4k, d’accessoires permettant les analyses HAADF, STEM, SAED et NBD ainsi que la tomographie grâce au porte échantillon inclinable.
• Un microscope électronique à balayage (MEB) JEOL 6360LV permet l’imagerie des surfaces avec une résolution de 3 nm.
• En plus des microscopes électroniques, la plateforme est équipée d’un microscope confocal à super-résolution STED Abberior SteadyCon pouvant imager en fluorescence des structures de 30 nm, d’un microscope confocal classique Leica SP8 et d’un microscope à fluorescence. 

Du soutien pour l’utilisation des équipements

Le personnel de la plateforme assure la formation sur tous ces équipements en plus de faire la préparation des échantillons. Des services d’histologie, inclusion en paraffine, coupe et colorations de toutes sortes sont disponibles, de même que l’inclusion en résine et coupes ultrafines destinées à l’imagerie MET. Des services de préparation de grilles pour les spécimens de nanoparticules métalliques ou biologiques sont disponibles, de même que les services de fixation, déshydratation supercritique et métallisation pour MEB. 

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